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京都玉崎株式会社
深圳市京都玉崎电子有限公司
Tel:0755-28578111
Fax:0755-28578000
Email:info@tamasaki.com
一种比色测温系统的光纤滤光技术
研究了空间点在工件表面发射光波强度与比色图像上比色值的对应关系,分析得出工件表面变形而产生的杂散光是导致测温系统中信号波动的原因。根据光纤对入射光源方向的选择性原理,研究将锥形光纤应用到比色测温仪的滤光系统中,在视觉传感器前增加锥形光纤滤光块组成复合滤光系统,并对焊接温度场进行比色测量,来验证复合滤光系统滤光效果。结果表明,锥形光纤滤光块组成的复合滤光系统能较好地达到滤除杂散光的效果。
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